中文名称：半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

英文名称：Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers

标准号：GB/T 11685-2003

标准类型CN

发布日期：2003-7-7

实施日期：2004-1-1

摘要：

>> 更多信息及订购