中文名称：纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定　X射线衍射线宽化法

英文名称：Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials—X-ray diffraction line broadening method

标准号：GB/T 23413-2009

标准类型CN

发布日期：2009-4-1

实施日期：2009-12-1

摘要：本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。

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