GB/T 34481-2017低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法
中文名称:低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法
英文名称:Test method for measuring etch pit density(EPD) in low dislocation density monocrystalline germanium slices
标准号:GB/T 34481-2017
标准类型CN
发布日期:2017-10-14
实施日期:2018-7-1
摘要:
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