中文名称：半导体管特性图示仪通用规范

英文名称：General specification test methods for semiconductor device curve tracers

标准号：GB/T 13973-2012

标准类型CN

发布日期：2012-12-31

实施日期：2013-6-1

摘要：本标准规定了半导体管特性图示仪（以下简称图示仪）的术语和定义、要求、测试方法、质量检验规则、标识、包装、运输、贮存等，适用于测试半导体管特性曲线和直流参数的半导体管特性图示仪，也适用于具有插入单元或附属装置的半导体管特性图示仪。

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