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GB/T 25758.4-2010无损检测 工业X射线系统焦点特性 第4部分:边缘方法

中文名称:无损检测 工业X射线系统焦点特性 第4部分:边缘方法

英文名称:Non-destructive testing—Characteristics of focal spots in industrial X-ray systems for use in non-destructive testing—Part 4:Edge method

标准号:GB/T 25758.4-2010

标准类型CN

发布日期:2010-12-23

实施日期:2011-10-1

摘要:本标准规定了采用清晰边缘的射线照相底片,来校验管电压最高至500kV的工业X射线系统的大于0.5mm焦点尺寸的方法。 X射线图像的像质和分辨力很大程度上取决于焦点的特性。焦点成像质量基于目标平面的二维强度分布。 边缘方法对于在现场条件下校验焦点是特别有效,以发现焦点的变化。本方法不能用于焦点尺寸的绝对测量。焦点尺寸的绝对测量方法见附录A。

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