GB/T 4326-2006非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
中文名称:非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
英文名称:Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
标准号:GB/T 4326-2006
标准类型CN
发布日期:2006-7-18
实施日期:2006-11-1
摘要:本标准规定的测量方法适用于非本征半导体单晶材料的霍尔系数、载流子霍尔迁移率、电阻率和载流子浓度。本标准规定的测量方法仅在有限的范围内对锗、硅、砷化镓单晶材料进行了实验室测量,但该方法也可适用于其他半导体单晶材料,一般情况下,适用于半导体单晶材料的测试。
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