中文名称：微电子技术用贵金属浆料测试方法　方阻测定

英文名称：Test methods of precious metals pastes used for microelectronics—Determination of sheet resistance

标准号：GB/T 17473.3-2008

标准类型CN

发布日期：2008-3-31

实施日期：2008-9-1

摘要：本标准规定了微电子技术用贵金属浆料中方阻的测定方法。

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