中文名称：带电粒子半导体探测器测量方法

英文名称：Test procedures for semiconductor charged particle detectors

标准号：GB/T 5201-2012

标准类型CN

发布日期：2012-6-29

实施日期：2012-11-1

摘要：本标准规定了带电粒子半导体探测器的电特性和核辐射性能的测量方法以及某些特殊环境的试验方法。 本标准适用于带电粒子部分耗尽层的半导体探测器。

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