中文名称：锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法

英文名称：Germanium monocrystal—Inspection of dislocation etch pit density

标准号：GB/T 5252-2006

标准类型CN

发布日期：2006-7-18

实施日期：2006-11-1

摘要：本标准适用于位错密度0 --100000的型和型锗单晶棒或片的位错密度或其他缺陷的测量。观察面为[111]、[100]和[113]面。

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