中文名称：半导体单晶晶向测定方法

英文名称：Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal

标准号：GB/T 1555-2009

标准类型CN

发布日期：2009-10-30

实施日期：2010-6-1

摘要：本标准规定了半导体单晶晶向X射线衍射定向和光图定向的方法。 本标准适用于测定半导体单晶材料大致平行于低指数原子面的表面取向。

>> 更多信息及订购