GB/T 32188-2015氮化镓单晶衬底片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
中文名称:氮化镓单晶衬底片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
英文名称:Test method for full width at half maximum of double crystal X-ray rocking curve of GaN single crystal substrate
标准号:GB/T 32188-2015
标准类型CN
发布日期:2015-12-10
实施日期:2016-11-1
摘要:
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